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南北桥的测试方法(实用应用文).doc
Doc-9MX893;本文是“通信或电子”中“WCDMA技术”的实用应用文的论文参考范文或相关资料文档。正文共1,517字,word格式文档。内容摘要:通过测PCI槽、AGP槽对地打阻值可判定南北桥有无损坏,槽中所有的AD复合线对地打阻值都为300~800之间数值,槽对地所有AD复合线对地打阻值都为300~800之间数值,内存槽,通过对数据线进行打阻值判断,都为300~800之间数值,说明北桥好;若由无穷大,说明北桥虚焊;若有3根或3根以上导通,说明北桥坏,对主供电部分输出电感一端或Q1场管的S极、Q2场管的D极打阻值,在40左右数值为正常,在20~30左右为北桥有轻微损坏,在10以下说明北桥损坏,对于IDE口、USB口打阻值来判断南桥是否有损坏,口,口,脚对地阻值小于80,南桥周围电容对地短路,数据线对地短路,待机时,南桥温度高,跳线中间脚
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向豆丁求助:有没有南北桥?

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